Сәтбаев университетінің Тау-кен металлургия саласындағы инжиниринг орталығында заманауи сканерлеуші электрондық микроскоп Quattro S (SEM) қолданысқа беріліп, ғылыми-зерттеу жұмыстарында кеңінен қолданылуда. Аталған микроскоп материалдардың беткі морфологиясын жоғары дәлдікте зерттеуге, микро- және наноқұрылымдық ерекшеліктерін, бөлшектердің өлшемін, кеуектілік дәрежесін және фазалық біртектілігін анықтауға мүмкіндік береді, – деп хабарлайды Aikyn.kz.
Микроскоптың энергия-дисперсиялық рентгендік спектроскопия (EDX) модулімен жабдықталуы материалдардың элементтік құрамын дәл анықтауға жағдай жасайды. Бұл әсіресе заманауи функционалды материалдар – MXene және металл-органикалық қаңқалар (MOF) үшін маңызды. MXene құрылымдарында Ti, C, O, F сияқты элементтердің арақатынасын бақылау олардың электрөткізгіштік, каталитикалық және сорбциялық қасиеттерін мақсатты түрде реттеуге мүмкіндік береді. Ал MOF материалдарында металл түйіндері мен органикалық лигандтардың таралуын талдау кеуек құрылымының тұрақтылығын, адсорбциялық сыйымдылығын және селективтілігін бағалауға негіз болады.
SEM–EDX кешені арқылы металлургиялық шикізат үлгілері, кен минералдары, металл қорытпалары, көміртекті және кремний негізді сорбенттер, MXene/MOF негізіндегі композициялық материалдар жан-жақты зерттелді. Алынған нәтижелер «құрылым – құрам – қасиет» байланысын терең түсінуге, экологиялық және энергетикалық бағыттағы жаңа жоғары тиімді материалдарды әзірлеуге, сондай-ақ өндірістік технологияларды оңтайландыруға мүмкіндік беруде.
Наноөлшемдегі объектілердің физика-химиялық қасиеттерін анықтау сканерлеуші электрондық микроскоптарсыз мүмкін емес. Себебі дәстүрлі оптикалық микроскоптар микрон деңгейіндегі объектілерді ғана зерттей алады. Ал Quattro S микроскопы наноөлшемді материалдардың қасиеттерін терең талдауға мүмкіндік беріп, заманауи ғылыми-зерттеулер үшін кең ауқымды мүмкіндіктер ұсынады.
Quattro S – материалдардың құрылымы мен құрамын жоғары дәлдікпен зерттеуге арналған заманауи аналитикалық кешен. Ол наноматериалдардан бастап тау-кен және металлургия саласына арналған материалдарға дейін әртүрлі үлгілерді зерттеуге мүмкіндік береді. Бұл құрал жүргізілетін ғылыми-зерттеулердің сапасын арттырып, алынған нәтижелердің халықаралық ғылыми стандарттарға сай болуын қамтамасыз етеді.
Аталған микроскоптың іске қосылуы Сәтбаев университетіндегі ғылыми-зерттеулердің қарқынын жеделдетіп, магистранттар мен докторанттарды даярлау сапасын жаңа деңгейге көтереді. Сонымен қатар өнеркәсіпке бағытталған қолданбалы зерттеулерді дамытуға, материалдар мен технологияларды жетілдіруге және ғылыми нәтижелерді нақты өндірістік шешімдерге енгізуге жол ашады.
Жалпы алғанда, Quattro S сканерлеуші электрондық микроскопының қолданысқа берілуі Қазақстанда материалтану және нанотехнология саласындағы ғылыми әлеуетті күшейтіп, ұлттық ғылымның бәсекеге қабілеттілігін арттыруға бағытталған маңызды қадам саналады.